多径衰落信道下射频识别系统抗干扰技术

• 作者: 于银山 俞晓磊 汪东华 赵志敏
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 射频识别系统瑞利信道 衰落 多普勒频移 正交频分复用 抗干扰
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 363-367,376
• 页数: 6页
• 分类号: TN911.4|TP23
• 字数: 3163字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201303.0363

摘要

射频识别(RFID)系统通信环境由简单近距离的室内通信向复杂远距离的都市通信发展，在读写器和电子标签之间出现了由多径效应引起的带多普勒频移的瑞利衰落。针对 B 类标签信号在多径瑞利衰落信道中的传输进行系统建模与分析，并将正交频分复用(OFDM)系统引入以提高 RFID信号对信噪比的敏感度。仿真结果表明，标签信号在多径瑞利衰落信道中对信噪比变化不敏感，引入 OFDM后信号对信噪比的敏感度明显提高，RFID系统抗干扰能力得到增强。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵志敏	南京航空航天大学理学院	103	682	15.0	21.0
2	汪东华		10	34	4.0	5.0
3	于银山	南京航空航天大学理学院	7	32	4.0	5.0
4	俞晓磊		6	41	4.0	6.0