X荧光筛选法在树脂等材料卤素含量分析中的应用

• 作者: 赵刚 邓波
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: X荧光 卤素 树脂材料
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 测评与应用
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TM215.1
• 语种: 中文

摘要

采用X荧光筛选法可快速分析电子产品中卤素元素氯、溴元素的含量.选用岛津EDX-LE能量色散型X荧光光谱仪,EDX-LE具有较好的灵敏度和精确度,在大气氛围下进行氯和溴含量的测试,该方法可用于树脂材料等电子产品中的卤素筛选分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵刚		1	0	0.0	0.0
2	邓波		1	0	0.0	0.0