晶粒尺寸对奥氏体不锈钢晶间腐蚀敏感性的影响

• 作者: 何燕妮 俞树荣 李淑欣 王璐
• 来源期刊: 中国腐蚀与防护学报
• 学科: 工学
• 关键词: 扩散连接接头 晶间腐蚀敏感性 晶粒尺寸 再活化率
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 70-74
• 页数: 5页
• 分类号: TG174.3+6
• 语种: 中文

摘要

采用微观形貌观察、电化学方法以及晶界分布特征分析研究316L不锈钢扩散连接接头的晶间腐蚀敏感性,探讨晶粒尺寸和微观结构对不锈钢扩散连接接头敏化的影响.结果表明,扩散连接接头在650℃下敏化100 h后晶界处几乎没有发现络合物的析出,而母材经过8h敏化则析出大量络合物.随着晶粒的增大,316LSS晶间腐蚀敏感性降低.晶粒粗化和低能晶界比例的提高导致扩散连接接头的抗晶间腐蚀能力提高,但晶粒粗化是主要因素.