反光和深色物体三维测量的改进方法

• 作者: 孙兴波 张闯 陈瑶 黄祥
• 来源期刊: 传感器世界
• 学科: 物理学
• 关键词: 三维测量 多次曝光 多频外差
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 研究动态
• 页码范围: 18-23
• 页数: 6页
• 分类号: O432
• 字数: 3296字
• 语种: 中文

摘要

传统的基于结构光的三维测量方法,由于采用投射一定频率的黑白条纹式结构光栅进行测量,所以这种方法对光照和物体本身的颜色要有一定的要求.很多反光或者深色的物体均需要喷涂一定的显影剂才能完成三维形貌的测量,但对于一些特定的物体不能采用喷涂的方式.本文采用一种多次曝光的方法,在多频外差的三维测量方法基础上改进了对反光或者深色物体的三维测量,并将多次曝光和摄像机双目测量系统相结合起来进行测量.在对物体进行多次曝光之后,将多次曝光的图像融合后成为一次曝光图像.使用双目结构测量系统只对左右相机可视区域进行测量,该方法精度高、并最大程度地保留了物体上细节信息,同时提高了测量结果的完整性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙兴波	四川理工学院自动化与电子信息学院	41	193	7.0	12.0
2	陈瑶	四川理工学院自动化与电子信息学院	6	19	3.0	4.0
3	黄祥	四川理工学院自动化与电子信息学院	7	19	3.0	4.0
4	张闯	四川理工学院自动化与电子信息学院	4	15	2.0	3.0