密封电子元器件氦检漏应注意的事项

• 作者: 宋小勇 方珍 田赛 郑天丕
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 标准 检漏 解读 公式
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 50-51
• 页数: 2页
• 分类号: TN784
• 字数: 1752字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2013.05.011

摘要

解读氦检漏的基本公式,得出氯检漏时应注意的四个要求:压氦前被检件内部氦压应为零;待检时,产品外部环境的氦压应为零;压氦、待检及质谱分析三个阶段产品所处的环境温度应基本一样;检测时环境温度超出25℃±5K,其结果应换算为25℃时的标准(空气)漏率.并且论证了标准(空气)漏率是客观存在的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑天丕		33	53	5.0	6.0
2	方珍		25	35	3.0	5.0
3	田赛		9	1	1.0	1.0
4	宋小勇		3	0	0.0	0.0