反平面变形下弱界面压电夹层结构的圣维南端部效应

• 作者: 刘金喜 薛雁
• 来源期刊: 工程力学
• 学科: 物理学
• 关键词: 圣维南原理 衰减率 压电夹层结构 反平面变形 弱界面
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 基本方法
• 页码范围: 41-46
• 页数: 6页
• 分类号: O346
• 语种: 中文
• DOI: 10.6052/j.issn.1000-4750.2012.02.0104

摘要

研究了弱界面压电夹层结构在反平面变形下的圣维南端部效应.夹层结构的端部承受自平衡电弹载荷,上、下表面机械自由,但可以是电学短路或开路的.基于压电材料反平面变形的控制方程,利用边界和界面条件,得到了关于衰减率的特征方程.作为例子,给出了压电-弹性-压电和弹性-压电-弹性两种典型夹层结构的显式特征方程,并数值表明了界面性能、电边界条件和体积分数对衰减率的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘金喜		40	144	6.0	11.0
2	薛雁		3	3	1.0	1.0