装药残损对柔性起爆网络输出同步性的影响

• 作者: 张郑伟 李元 李晓刚 李燕华 温玉全
• 来源期刊: 火工品
• 关键词: 柔性同步起爆网络 装药残损 输出同步性 偏差
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TJ45+6
• 语种: 中文

摘要

弹药发射过程中同步起爆网络的组件可能会因高过载而产生结构损伤，为了研究结构装药损毁后对同步起爆网络输出性能的影响，设计了“一入二出”柔性同步起爆网络，对其响应时间进行了理论分析，给出了输出同步性偏差的估算公式。通过试验分析了转换接头内置装药在设定残损程度下对输出同步性的影响。结果表明，当装药残损率不超过20%时，输出同步性偏差随残损率的增大而增大；当残损率达到19.76%时，输出同步性偏差高达222ns。在给定可接受同步性偏差的条件下，可结合残损率与同步性偏差的关系式反推装药残损率，获得残损率不超过指定值的装药结构。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	温玉全	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	56	362	12.0	15.0
2	张郑伟	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	2	4	1.0	2.0
3	李晓刚	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	7	36	4.0	6.0
4	李元	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	13	43	4.0	5.0
5	李燕华	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	9	13	3.0	3.0