LED光源寿命评估方法探讨

• 作者: 张磊 徐立生 高兆丰 高金环 黄杰
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: LED光源 流明维持寿命 流明退化率 阿列尼斯方程 最小二乘曲线拟合 点估计 区间估计
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 946-948
• 分类号: TN307|TN312.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2013.12.013

摘要

简要介绍了北美体系(IES)和国际电工协会(IEC)体系中LED光源流明维持寿命评估标准的发展和现状.基于半导体产品可靠性相关知识,对美国照明工程学会201 1年发布的IESTM-21-11 LED光源流明维持寿命的推算方法中的数据选用和数据处理方法提出了质疑,并通过文中提及的E3.0实例对问题观点进行了例证说明.建议选用设备可靠性试验的相关标准GB5080-85对LED光源流明维持寿命进行评估,期望能够给国内半导体照明行业相关人士提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高兆丰	中国电子科技集团公司第十三研究所	5	19	2.0	4.0
2	高金环	中国电子科技集团公司第十三研究所	11	12	2.0	2.0
3	徐立生	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	16	1.0	4.0
4	张磊		37	58	4.0	7.0
5	黄杰	中国电子科技集团公司第十三研究所	19	21	2.0	4.0