电晕放电老化对高温硫化硅橡胶材料陷阱特性的影响

• 作者: 宋伟 张冠军 王国利 王育路 申文伟
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 复合绝缘子 高温硫化 HTV 电晕放电 老化 电子陷阱 空穴陷阱 SEM分析 XPS分析
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 979-986
• 页数: 8页
• 字数: 6714字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2013.04.031

摘要

随着运行年限的增加,在役复合绝缘子的老化现象逐渐凸显,严重影响电力系统的安全.为此,首先针对在不同电晕强度(电压和时间)下老化后的高温硫化(HTV)硅橡胶试样,研究了材料表面陷阱特性、表面微观形貌(SEM)和元素特性(XPS)的变化规律,然后分析了不同年限的在役复合绝缘子伞裙材料的陷阱特性.研究表明,随着电晕电压或老化时间的增加,电子和空穴陷阱密度不断增加,最后趋向饱和水平.SEM和XPS分析结果表明,老化后材料表面出现大量孔洞等缺陷,强极性基团数量增加,分别作为物理和化学陷阱对陷阱特性产生影响.对于现场复合绝缘子伞套材料,其电子和空穴陷阱密度也呈现随运行时间增加而增长的类似规律,其中空穴陷阱密度规律性好,重复性强,有望成为一种评价复合绝缘子材料老化的新型定量表征参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张冠军	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	229	2423	27.0	41.0
2	宋伟	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	20	203	8.0	14.0
3	王育路	陕西省电力公司规划评审中心	5	39	3.0	5.0
4	申文伟	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	1	33	1.0	1.0