风电用TFT复合材料高频电老化性能试验探讨

• 作者: 何明鹏 刘雁 张小俊 李忠 梁智明 潘庆辉
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 复合材料 高频电老化寿命 电压 频率 上升沿时间 温度
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 73-75,79
• 页数: 4页
• 分类号: TM201.4
• 语种: 中文

摘要

对TFT复合材料在不同影响因素（电压、频率、上升沿时间、温度）下进行高频电老化测试，探讨不同影响因素对高频电老化寿命的影响。结果表明：电压与高频电老化寿命成负指数幂关系；随着频率和温度的增加，高频电老化寿命缩短；上升沿时间越短，高频电老化寿命越短。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘庆辉		4	6	2.0	2.0
2	张小俊		5	6	2.0	2.0
3	何明鹏		3	4	1.0	1.0
4	梁智明		16	79	6.0	8.0
5	刘雁		4	9	2.0	3.0
6	李忠		1	1	1.0	1.0