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摘要:
冷反射是评价制冷型红外光学系统成像质量的一个重要参数.分析了制冷红外光学系统产生冷反射的原因,讨论了在光学设计软件中对冷反射现象的控制与分析方法;提出了采用逆光路追迹光线的方法分析光学系统中各个光学表面产生的冷反射大小;设计了一个工作在长波红外波段的制冷型光学系统,系统焦距为120 mm;采用逆光路追迹像点弥散的方法分析了光学系统各个表面产生的冷反射大小.其结果与采用光学设计软件给出的冷反射评价参数YNI与、I/Ibar、以及利用经验公式计算得到的结果一致,且采用逆光路追迹分析冷反射的方法更加直观.
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内容分析
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文献信息
篇名 制冷型红外光学系统冷反射的逆光路分析
来源期刊 电光与控制 学科 航空航天
关键词 光学设计 红外光学系统 冷反射 YNI
年,卷(期) 2013,(6) 所属期刊栏目 工程应用
研究方向 页码范围 66-69
页数 4页 分类号 V271.4
字数 2817字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-637X.2013.06.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张鹏 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 19 28 2.0 4.0
2 熊钟秀 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 1 12 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
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红外光学系统
冷反射
YNI
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电光与控制
月刊
1671-637X
41-1227/TN
大16开
河南省洛阳市017信箱16分箱
1970
chi
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