原文服务方: 火工品       
摘要:
采用射频(RF)磁控溅射技术在单晶硅(Si)基底上制备了硼(B)薄膜,研究了工作气压和溅射功率对薄膜沉积速率及薄膜质量的影响,并对薄膜的微观形貌和组成成分进行了表征.结果表明:当气压为0.3Pa 时,B薄膜的沉积速率最大;沉积速率随溅射功率的增大而增大;在0.3Pa、150W条件下制备的B薄膜比较平整、均匀、致密;B薄膜的主要构成为晶态的B,存在少量的B2O3.
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文献信息
篇名 射频磁控溅射法制备硼薄膜
来源期刊 火工品 学科
关键词 硼薄膜 射频磁控溅射 制备 形貌表征 成分分析
年,卷(期) 2013,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 5-9
页数 分类号 TJ450.4
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 叶迎华 南京理工大学化工学院 123 751 15.0 19.0
2 沈瑞琪 南京理工大学化工学院 171 1017 16.0 20.0
3 胡艳 南京理工大学化工学院 56 350 11.0 15.0
4 杨程 南京理工大学化工学院 3 12 2.0 3.0
5 李创新 南京理工大学化工学院 5 24 3.0 4.0
6 刘玉杰 南京理工大学化工学院 1 3 1.0 1.0
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硼薄膜
射频磁控溅射
制备
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成分分析
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火工品
双月刊
1003-1480
61-1179/TJ
大16开
1979-01-01
chi
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