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摘要:
集成电路在实际应用中,经常会出现工作异常甚至失效的情况。当电路发生失效时,需要采用各种手段尽快定位问题所在,随后在本地复现相关现象,明确问题原因,进而提出针对性的解决方案。文章介绍了一款485总线协议处理器电路的失效分析过程,包括问题的出现、现场确认、失效现象复现以及测试分析和问题解决等内容,对于相关集成电路的失效分析具有一定的参考价值和借鉴意义。
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相关文献总数  
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文献信息
篇名 485总线协议处理器的失效分析研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 RS-485 失效分析 同步收发器
年,卷(期) 2013,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 29-32
页数 4页 分类号 TN407
字数 2898字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 罗晟 7 4 1.0 2.0
2 丁涛杰 6 6 2.0 2.0
3 郭晖 3 3 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
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2013(0)
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研究主题发展历程
节点文献
RS-485
失效分析
同步收发器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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