基于单片机的X射线测厚仪数据采集系统设计

• 作者: 李蔚森 杨浩 汤代斌
• 来源期刊: 安徽工业大学学报（自然科学版）
• 关键词: X射线 数据采集 C8051单片机
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 机械、控制与电气
• 页码范围: 174-177
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7872.2013.02.016

摘要

传统的X射线测厚仪采用工业控制计算机实现数据采集与处理功能,针对其系统结构复杂、成本高的缺点,提出基于高速单片机的数据采集与处理方案.以C8051F060高速单片机为核心芯片,对HRX-40型X射线测厚仪的数据采集与处理系统进行软硬件设计,X射线探头将衰减后的X射线转换为电流信号,经高灵敏度的电流放大器AD549放大后,由轨到轨高速运算放大器LT1806构成的电压跟随器送到单片机的16位ADC输入通道进行电压采样,采样后的数据由单片机处理后得到被测板材厚度值,再由增强型UART串口输出至LED显示屏实时显示.通过所制作样机的实验数据验证了设计的正确性和可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汤代斌		9	17	2.0	3.0
2	杨浩		23	19	2.0	3.0
3	李蔚森		1	2	1.0	1.0