介质材料厚度对一维光子晶体禁带的影响

• 作者: 侯国付 刘彩池 孙卫忠 王正刚 赵颖
• 来源期刊: 南开大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 一维光子晶体 光子禁带 介质层厚度
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 80-85
• 页数: 6页
• 分类号: O484.4+1
• 语种: 中文

摘要

由Si和SiO2两种介质材料构成一维二元光子晶体,研究了介质材料各层厚度对光子禁带宽度和禁带位置的影响.为了更加接近实际情况,数值模拟中考虑了Si和SiO2折射率随波长的变化及材料的吸收.研究结果表明,在单周期厚度不变时,随着Si和SiO2两种高低折射率介质厚度比值的增加,光子禁带变窄且禁带中心向长波方向移动;在两种介质厚度比值确定时,随着两种介质厚度同步递增,光子禁带展宽的同时禁带中心向长波方向移动.因此,在介质材料确定的前提下,可通过改变介质材料各层的厚度获得所需要的光子禁带.