紫外像增强器信噪比与MCP电压的关系

• 作者: 刘照路 吴星琳 程宏昌 邱亚峰 钱芸生
• 来源期刊: 应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: 微通道板 紫外像增强器 信噪比 电压
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 微光技术
• 页码范围: 494-497
• 页数: 4页
• 分类号: TN144
• 字数: 2394字
• 语种: 中文
• DOI: 10.5768/JAO201334.0304003

摘要

日盲型紫外像增强器在空间光学探测、环境监测、战略国防等方面上具有非常广阔的应用前景,参照微光像增强器信噪比测试原理,设计了紫外像增强器信噪比测试系统,并给出其测试条件,利用研制的信噪比测试仪研究了微通道板两端电压对日盲型紫外像增强器信噪比的影响,测量了其关系曲线.结果表明,在小于850 V区域内,紫外像增强器的输出信噪比随着MCP两端电压的增大而增大；当超过850 V时,MCP两端电压增大,紫外像增强器的输出信噪比基本维持不变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱芸生	南京理工大学电子工程与光电技术学院	86	807	13.0	24.0
2	邱亚峰	南京理工大学机械工程学院	55	199	7.0	9.0
3	程宏昌		18	42	4.0	6.0
4	吴星琳	南京理工大学机械工程学院	1	5	1.0	1.0
5	刘照路		1	5	1.0	1.0