在电子器件质量管理中引入DMAIC模型的实例研究

• 作者: 曾佳俊 龙沪强
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件可靠性 质量管理 六西格玛 DMAIC 加速寿命试验 试验设计方法
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 313-319
• 页数: 7页
• 分类号: TN609
• 字数: 4878字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2013.03.007

摘要

现有电子元器件质量管理手段大都比较片面,缺乏理论依据.为此,在器件质量管理中引入六西格玛管理中的DMAIC方法,可以明确关键电子器件、根据实际工作条件进行可靠性测试与验证、对问题器件进行分析与改进、并最终实现长效控制,提高了质量管理的经济性和有效性.对MOSFET在荧光灯项目中的实例分析表明,样品MOSFET经过质量改进后便可满足项目需求；应用DMAIC方法是以理论为依据、数据为依托,可以成功实现器件质量评估、改进与控制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙沪强	上海交通大学电子信息与电气工程学院	30	97	6.0	8.0
2	曾佳俊	上海交通大学电子信息与电气工程学院	1	10	1.0	1.0