数字电路测试程序设计

• 作者: 刘珊珊 康锡娥
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 功能测试 直流测试 交流测试 测试向量
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 页码范围: 10-12,28
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2041字
• 语种: 中文

摘要

为了更好地满足生产质量要求，严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上，文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高，功能更加强大，测试向量越来越大，测试时间也越来越长。为了降低测试成本，Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点，顺应测试行业的发展，在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例，对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康锡娥		7	15	2.0	3.0
2	刘珊珊		3	4	1.0	1.0