材料色散对1维光子晶体缺陷模影响的研究

• 作者: 熊翠秀 蒋练军
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 光电子学 缺陷模频移 传输矩阵法 材料色散
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 激光材料和光学元件
• 页码范围: 742-746
• 页数: 5页
• 分类号: O474
• 字数: 1963字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2013.06.008

摘要

为了分析材料色散对缺陷模的影响，对色散材料采用洛伦兹振子模型，利用传输矩阵法计算了含缺陷1维光子晶体的透射谱，分析了各层的色散对该结构1维光子晶体缺陷模的影响。结果表明，无论是高、低折射率介质还是缺陷层的色散都可以引起缺陷模的频移或分裂；缺陷模的频移方向与考虑色散后光学厚度的变化有关，如果光学厚度增大，则发生红移，反之则发生蓝移；低折射率介质的色散使缺陷模频移的效果最显著。这一结果对光子晶体的设计和研究有一定的参考价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋练军	湖南城市学院通信与电子工程学院	36	29	2.0	2.0
2	熊翠秀	湖南城市学院通信与电子工程学院	35	30	3.0	3.0