基于斜侧视圆周扫描的近场微波成像算法

• 作者: 李南京 杜卫民 许家栋 闫伟
• 来源期刊: 数据采集与处理
• 学科: 工学
• 关键词: 逆合成孔径雷达成像 大转角目标 近场成像 斜侧视
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 7-11
• 页数: 5页
• 分类号: TN957
• 字数: 2783字
• 语种: 中文

摘要

针对传统小角度转台成像对大转角目标不能很好聚焦这一问题,研究了基于斜侧视圆周扫描的近场转台成像系统,提出了一种近场大转角成像算法,采用角度域卷积运算,可以快速得到目标的散射点分布,并能够进行很好的聚焦.本文根据点扩散函数给出了圆周扫描成像系统的分辨率计算公式,并推导了频率域和角度域的采样间隔.最后通过仿真和实验结果对该算法进行验证,结果表明该算法具有近场成像的能力,且能够得到高质量高分辨率的目标图像.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许家栋	西北工业大学电子信息学院	331	2081	18.0	30.0
2	李南京	西北工业大学无人机特种技术国家级重点实验室	38	308	10.0	15.0
3	闫伟	西北工业大学电子信息学院	24	103	6.0	9.0
4	杜卫民	西北工业大学电子信息学院	2	6	2.0	2.0