整流二极管瞬态HTIR测试

• 作者: 保爱林 傅兴中 徐泓
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 整流二极管 高温漏电流(HTIR) 筛选 结温 瞬态加热
• 年，卷（期）: 2013,（11）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 873-876
• 分类号: TN313.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2013.11.015

摘要

整流器件在高温下的漏电流(HTIR)对其工作中的可靠性有重要影响.目前对整流二极管HTIR的测试只限于稳态测试.由于其测试效率低下,不适于制造过程中的快速筛选.利用电流脉冲对整流二极管的pn结瞬态加热并在其后进行快速测试的方法,进行了瞬态HTIR筛选测试实验.与稳态测试进行了对比,结果表明:当瞬态HTIR测试值作为筛选条件确定后,筛选精度与结温以及导致该结温的瞬态加热条件有关,较高的结温有利于提高筛选精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	保爱林		6	5	2.0	2.0
2	傅兴中		1	2	1.0	1.0
3	徐泓		1	2	1.0	1.0