浅谈共聚焦显微技术

• 作者: 陈木旺
• 来源期刊: 光学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 显微 共聚焦显微技术 激光扫描共聚焦 碟片共聚焦 结构光
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 光学系统
• 页码范围: 44-47
• 页数: 4页
• 分类号: TH742
• 字数: 1160字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5630.2013.01.009

摘要

共聚焦显微镜以其高对比度、高分辨率及可重建三维图像的独特优势,在生物医学研究、微细加工、半导体和高分子材料的生产检测等领域获得广泛应用.常用的共聚焦技术方法有:传统的激光扫描共聚焦显微镜(LSCM),其特点是获得的图像对比度和分辨率高,但需要逐点扫描,帧成像时间长,系统复杂,体积大,价格昂贵；碟片共聚焦显微镜(SDCM)是采用多光束扫描的方法来获得共聚焦图像,速度可以大大提高,但牺牲了共聚焦图像的分辨率,系统更为复杂,且不能调整轴向分辨率；结构光显微镜(SIM)具有方法简单,可模块化设计,成本低,成像质量接近于激光扫描共聚焦显微镜,成像速度快,性价比较高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈木旺		3	14	2.0	3.0