基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术

• 作者: 曹绍谦 李中梁 李思坤 步扬 汤飞龙 王向朝
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 测量 偏振 米勒矩阵 单光弹调制器 校准
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计量
• 页码范围: 122-129
• 页数: 8页
• 分类号: O436.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201333.0112006

摘要

针对已有米勒矩阵测量方法的不足,提出了一种基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术,给出了米勒矩阵测量优化算法及系统参数两步校准法.该技术通过两步校准法对系统参数进行校准测量,利用优化算法计算得到待测样品的米勒矩阵.实验结果表明,待测1/4波片相位延迟量测量值为90.4185°,误差在标称偏差λ/300以内,快轴方位角测量值为0.2348°,误差在最大旋转误差0.4°以内.同快轴方位角为O°的1/4波片标准米勒矩阵相比,待测1/4波片米勒矩阵各元素最大相对误差的直接测量值和间接测量值分别为1.97％和0.83％,均小于最大相对误差的模拟仿真值2.11％.通过提高旋转台的读数精度和减小相位延迟量的标称偏差,可以进一步减小米勒矩阵各元素的最大相对误差.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王向朝	中国科学院上海光学精密机械研究所	170	1628	23.0	35.0
2	步扬	中国科学院上海光学精密机械研究所	37	199	7.0	14.0
3	汤飞龙	中国科学院上海光学精密机械研究所	4	0	0.0	0.0
4	李中梁	中国科学院上海光学精密机械研究所	17	23	3.0	4.0
5	曹绍谦	中国科学院上海光学精密机械研究所	4	0	0.0	0.0
6	李思坤	中国科学院上海光学精密机械研究所	25	3	1.0	1.0