基于PFA的IGBT键合线失效机理及寿命预测

• 作者: 平恩顺 张鑫宇 李志星
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电动汽车 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块 失效物理分析(PFA) 键合引线 寿命预测
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 所属期刊栏目: 半导体制造技术
• 页码范围: 681-684,690
• 分类号: TN322.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2013.09.008

摘要

为合理解释电动汽车中绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块引线键合失效机理并有效预测其寿命,提出了基于失效物理分析(PFA)的IGBT模块键合引线的快速寿命预测方法.首先,分析了IGBT模块引线键合的失效机理,确定了有效评估失效的参数.其次,借助热阻抗曲线计算方法得到了IGBT模块内部温度分布,并提出了快速功率循环测试电路的实现方法.最后,对提出的方法进行了失效物理分析并进行了实验验证.实验结果表明,这种方法合理解释了引线键合失效机理,并能对IGBT模块键合引线的寿命进行有效的预测,因此具有可行性和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鑫宇	内蒙古科技大学机械工程学院	7	29	4.0	5.0
2	李志星	内蒙古科技大学机械工程学院	9	33	4.0	5.0
3	平恩顺	河北工业大学机械工程学院	4	56	4.0	4.0