X -衍射法测定电解质分子比方法研究

• 作者: 朱建江 赵庆桥
• 来源期刊: 有色矿冶
• 学科: 化学
• 关键词: 电解质 分子比 X-衍射法
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 59-60
• 页数: 2页
• 分类号: O657
• 字数: 1496字
• 语种: 中文

摘要

构建电解质的分子比强度模型，用X -射线分析仪衍射测电解质中的各组份的物相，求得电解质分子比强度值。建立电解质分子比回归曲线，测量电解质分子比。X-衍射法测定分子比其准确度达到了化学全元素分析方法的准确度。