TFT-LCD Touch Mura不良的研究和改善

• 作者: 刘子源 施园 齐鹏
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: Touch Mura 液晶量 柱状隔垫物 Total Pitch
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 器件物理及器件制备技术
• 页码范围: 204-209
• 页数: 6页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 2272字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20132802.0204

摘要

Touch Mura在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生,并且严重影响产品性能.文章主要研究了液晶量、Sub PS设计、PS段差设计及工艺参数Total pitch对Touch Mura的影响.实验结果表明液晶量的增加能够补偿敲击偏移,减轻Touch Mura不良；Sub PS的Z字形设计由于阻挡效应能够有效减轻Touch Mura;Main PS和Sub PS的段差越大,Touch Mura margin越小；工艺参数Total Pitch越接近设计值,Touch Mura风险越小.所以在设计过程中优化液晶量和Main-Sub PS段差设计及Sub PS设计能够有效减低Touch Mura风险,此外,生产过程中对工艺参数Total pitch的管控也至关重要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	齐鹏	清华大学电子工程系	3	35	2.0	3.0
5	施园		1	24	1.0	1.0
6	刘子源		1	24	1.0	1.0