LAN/USB在LabVIEW下的IVI编程

• 作者: 郭占山
• 来源期刊: 计量技术
• 关键词: IVI技术 仪器控制 测量
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 37-40
• 页数: 4页
• 字数: 2249字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2013.6.10

摘要

针对测试系统软件与系统中测试仪器不是过时,就是需要升级、更换、生命周期不匹配和减小升级测试系统花费的时间和成本问题,在介绍了IVI类驱动程序和IVI测试程序开发步骤的基础上,以通过Agilent34410A的LAN/USB为例,描述了在MAX软件中配置IVI仪器的Logical Names和Driver Sessions的过程,及在LabVIEW下利用IVI驱动设计IVI数字电压表测量程序.对正确地开发IVI应用程序、缩短开发周期和减小维护成本都具有重要的意义.