石英晶体测试系统中DDS信号源设计

• 作者: 李东 王艳林 陈南
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 石英晶体 DDS AD9852 STM32F103ZET6
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 光电·材料
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TN74
• 字数: 1210字
• 语种: 中文

摘要

针对π网络石英晶体参数测试系统,采用以STM32F103ZET6型ARM为MCU控制DDS产生激励信号.该测试系统相对于传统的PC机测试系统具有设备简单、操作方便,较之普通单片机测试系统又具有资源丰富、运算速度更快等优点.AD9852型DDS在ARM控制下能产生0～100 MHz扫频信号,经试验数据分析得到信号精度达到0.5×10-6,基本满足设计要求.该系统将以其小巧、快速、操作方便、等优点被广泛采用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李东	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	55	144	7.0	8.0
2	王艳林	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	32	89	6.0	7.0
3	陈南	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	1	2	1.0	1.0