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摘要:
在SiC衬底上生长了碳硅共掺杂p型AlN晶体,通过X射线衍射、X射线光电子能谱(XPS)、光致发光(PL)光谱、霍尔测试对碳硅共掺杂p型AlN晶体的结构、光学及电学性能进行了综合研究.通过XPS测试分析(尤其是对样品中Si 2p和Cls的XPS谱分析)发现,样品中C替代N成为受主,而Si替代Al成为施主.样品的PL谱主要包括两个特征发射峰,分别来自于C、Si在AlN中形成的复合物VN-CN和CN-SiAl.
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文献信息
篇名 碳硅共掺杂p型AlN的光电性能研究
来源期刊 发光学报 学科 物理学
关键词 光致发光 掺杂 p型导电 半导体材料 AlN
年,卷(期) 2013,(9) 所属期刊栏目 器件制备及器件物理
研究方向 页码范围 1199-1202
页数 4页 分类号 O474|O433
字数 2111字 语种 中文
DOI 10.3788/fgxb20133409.1199
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1000-7032
22-1116/O4
大16开
长春市东南湖大路16号
12-312
1970
chi
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