基于IEEE 1500的数字SOC测试系统的设计与实现

• 作者: 陈凯 陈寿宏 颜学龙
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: IEEE 1500 SOC 测试系统
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 1140-1142
• 页数: 3页
• 分类号: TP47
• 语种: 中文

摘要

IEEE 1500为核供应者与核应用者提供接口,可有效实现测试电路复用.简要分析IEEE 1500标准,包括核测试壳Wrapper及核测试语言(CTL)两者的结构和特点；论述基于IEEE 1500的数字SOC测试系统的总体设计目标,设计了测试系统的软硬件体系结构,并构建了测试系统；通过DEMO电路测试验证,系统可正确实现扫描链完备性测试、核功能内测试及核互连测试,表明系统工作稳定,通用性强.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	陈寿宏	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	37	107	5.0	8.0
3	陈凯	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	5	43	4.0	5.0