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摘要:
热场模拟在物理气相输运法(PVT法)制备SiC单晶工艺的改进中起着重要的作用.实验中发现,SiC晶体生长表面可能会起伏不平,导致生长的晶体质量下降.经分析可知,籽晶固定过程中籽晶背面形成的气孔是造成晶体生长表面起伏不平的主要因素.热场模拟发现,在籽晶背面有气孔处,籽晶生长面温度较高.气孔宽度、籽晶厚度及粘结剂厚度影响籽晶表面气孔中心与气孔边缘的温差.减小气孔、增厚籽晶可有效减小籽晶表面气孔中心与气孔边缘的温差,是改善晶体生长面质量的两个有效途径.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 SiC单晶生长的热场模拟及其在籽晶固定方面的应用
来源期刊 稀有金属 学科 工学
关键词 物理气相输运法 SiC单晶 热场模拟 籽晶固定
年,卷(期) 2013,(1) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 76-81
页数 分类号 TN304.02
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-7076.2013.01.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨志民 40 363 9.0 17.0
2 李翠 2 9 2.0 2.0
3 杨立文 2 9 2.0 2.0
4 蒋秉轩 2 9 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
物理气相输运法
SiC单晶
热场模拟
籽晶固定
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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稀有金属
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0258-7076
11-2111/TF
大16开
北京新街口外大街2号
82-167
1977
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