基于FPGA和ARM9的电压波动与闪变测试仪设计

• 作者: 张克明
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电压波动 闪变 现场可编程门阵列 ARM9 快速傅里叶变换
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 可编程器件应用
• 页码范围: 87-90,96
• 页数: 5页
• 分类号: TM932
• 字数: 2887字
• 语种: 中文

摘要

以嵌入式ARM9控制器和FPGA为处理核心,设计了手持式的电压波动与闪变测试仪,可以同时测量4路交流电压信号的短时闪变值Pst和长时闪变值Pit.为了简化运算过程,对电压每半周波进行一次方均根值运算,并对得到的方均根值序列进行快速傅里叶变换,求解出各频率下对应的瞬时闪变值,并利用概率大值法求解短时闪变.通过在FPGA中的2组存储器交替接收数据,利用乒乓方式实现32位的FFT算法,可大幅提高运算速度与精度.实验结果表明,本测试仪对于方均根值计算精度达到2‰,闪变测量精度达到2％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张克明		14	16	3.0	3.0