一种辐射环境下小子样试验评估方法

• 作者: 冯蕴雯 崔帅 张美丽 薛小锋
• 来源期刊: 航空计算技术
• 关键词: 辐射 小子样 试验评估 软件研制
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 计 算 方 法
• 页码范围: 54-58
• 页数: 5页
• 分类号: O212
• 语种: 中文

摘要

对元器件在辐射环境下的小子样试验评估方法作了分析研究，基于元器件辐射损伤阈值服从正态分布的假设，采用基于虚拟增广的小子样试验评估方法对元器件抗辐射能力进行评估，得到了元器件在给定置信水平下的损伤阈值下限及在给定辐射水平下的生存能力，通过实例验证了评估方法的可行性。在labview开发环境下完成方法的软件研制。方法可为航天器的抗辐射加固设计与评估提供有益参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯蕴雯	西北工业大学航空学院	102	1224	16.0	32.0
2	薛小锋	西北工业大学航空学院	53	236	9.0	11.0
3	崔帅		10	28	2.0	5.0
4	张美丽	西北工业大学航空学院	2	4	1.0	2.0