暗室处理引起的底片质量问题及其预防

• 作者: 孟震
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 暗室 底片 伪缺陷
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 45-47,52
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

对由于暗室处理不当而引起的底片质量问题进行了归纳和总结,分析了常见底片伪缺陷的种类、产生原因、识别方法,提出了一些预防措施和解决方法,并将这些方法应用于工程实践中,取得了良好的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟震		1	0	0.0	0.0