VJ Electronix在NEPCON China上展出获奖的Vertexll X射线检测系统

• 来源期刊: 现代表面贴装资讯
• 学科: 工学
• 关键词: X射线检测系统 X射线技术 SRT 返修
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 28-28
• 页数: 1页
• 分类号: TN407

摘要

VJ Electronix有限公司将在NEPCONSouthChina2013的Kasion展位（1H43）上展出全新的VertexII下一代X射线技术及高性能SRT Micra返修平台。