光耦在FPGA应用中的可靠性设计

• 作者: 赵国玉
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 光耦 现场可编程门阵列 可靠性设计
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 41-43
• 页数: 3页
• 分类号: TB114.32
• 语种: 中文

摘要

结合实际工作中的体会和经验,就光耦可靠性设计等问题展开了论述；特别是对于象FPGA等较低的输入电流器件,论述了如何进行可靠性设计,并提出一些改善设计的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵国玉		1	1	1.0	1.0