高压静电场与残膜吸附高度的相关性研究

• 作者: 冯江 杨方 王丹 王润涛 高蕾
• 来源期刊: 农机化研究
• 学科: 农学
• 关键词: 残留地膜 静电吸附 回归分析 曲线拟合 静电电压值
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 53-56
• 页数: 4页
• 分类号: S121
• 字数: 2464字
• 语种: 中文

摘要

自大田生产使用地膜开始，残留地膜的回收一直是个难题。针对这一问题，研究了高压静电场对残留地膜吸附的影响，即在电场力作用下，残留地膜将会沿电场的方向移动产生静电吸附现象。而后，将吸附残膜的高度和吸附所需的最大静电电压值的关系进行回归分析，并合理地预测模型；在 MATLAB 下进行曲线拟合。最后，得出二者之间的函数关系式，为准确地预测在不同高度下对残留地膜的吸附所需要的电压提供了有利的数据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨方	东北农业大学电气与信息学院	70	694	13.0	23.0
2	王丹	东北农业大学电气与信息学院	51	180	7.0	11.0
3	冯江	东北农业大学电气与信息学院	67	429	11.0	16.0
4	王润涛	东北农业大学电气与信息学院	38	269	10.0	15.0
5	高蕾	东北农业大学电气与信息学院	4	84	4.0	4.0