贝叶斯方法在电子元器件可靠性评估中的应用

• 作者: 郭海涛
• 来源期刊: 福建轻纺
• 学科: 工学
• 关键词: 贝叶斯方法 可靠性 验前分布 试验样本数
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 42-46
• 页数: 5页
• 分类号: TN606
• 字数: 3166字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-550X.2013.04.003

摘要

文章在经典贝叶斯方法的基础上,提出了一种确定验前分布可信度权重因子的方法.从而利用贝叶斯统计推断方法,得到了电子元器件可靠性评估中,满足可靠度及置信度要求的试验样本数.将计算结果与经典试验统计方法所得样本数进行比较,发现贝叶斯方法由于充分利用了相关产品的历史信息,从而使得评估新产品时,所需要的样本数目明显减少.在减少样本数,降低成本方面,贝叶斯方法较经典方法具有明显的优势.

作者信息

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1	郭海涛		2	0	0.0	0.0