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摘要:
考虑正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界估计.利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关.其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用.
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文献信息
篇名 正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界
来源期刊 长春大学学报(自然科学版) 学科 数学
关键词 正则任意阶微分系统 特征值 特征向量 一般权 上界
年,卷(期) 2013,(4) 所属期刊栏目 数理科学
研究方向 页码范围 971-976,981
页数 7页 分类号 O175.1
字数 3099字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 钱椿林 苏州市职业大学马列与公共教学部 53 81 5.0 7.0
2 朱敏峰 苏州市职业大学马列与公共教学部 7 11 2.0 3.0
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