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摘要:
利用透射电子显微镜(TEM)的明场、暗场和扫描透射3种表征技术对纳米负载催化剂Cu-Ag/SiO2的微观形貌、结构进行研究表征,并将所得结果进行对比,讨论这3种技术在表征负载催化剂微观结构方面的优缺点.结果表明:STEM不仅能表征纳米颗粒的粒径分布,还能得到样品的元素分布信息,结果最为直观全面.
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文献信息
篇名 纳米负载催化剂的透射电子显微镜表征
来源期刊 中国测试 学科 工学
关键词 透射电子显微镜 暗场 扫描透射 纳米负载催化剂
年,卷(期) 2013,(2) 所属期刊栏目 纳米技术与测试-专题
研究方向 页码范围 73-76
页数 4页 分类号 TB383|O785+.5|TB92|TM930.114
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
透射电子显微镜
暗场
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纳米负载催化剂
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中国测试
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1674-5124
51-1714/TB
大16开
成都市成华区玉双路10号
26-260
1975
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