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让电子设计无后顾之忧--2013 EDN China测试测量研讨会纪实
让电子设计无后顾之忧--2013 EDN China测试测量研讨会纪实
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文献信息
| 篇名 | 让电子设计无后顾之忧--2013 EDN China测试测量研讨会纪实 | ||
| 来源期刊 | EDN CHINA 电子技术设计 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 测试测量 R＆S 安捷伦 PTC Mathcad 乐普科 力科 | ||
| 年，卷（期） | 2013,（4） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 42-43 | |
| 页数 | 2页 | 分类号 | TN702 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
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EDN CHINA 电子技术设计
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其它
ISSN：
无
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