民用机载电子硬件的SEU效应FPGA仿真测试研究

• 作者: 王鹏 田毅 白杰 薛茜男
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 民用航空 SEU 检错电路 多时钟沿 FPGA
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 68-72
• 页数: 5页
• 分类号: TN710-34
• 字数: 4253字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2013.01.016

摘要

针对民用机载电子硬件的现场可编程门阵列(FPGA)芯片高使用频率和长时间运行的特点,以及联邦航空管理局(FAA)等提出的审查条例对单粒子翻转效应(SEU)的防护要求,介绍了民用机载电子硬件的SEU效应评估研究的必要性.并且从民用机载电子硬件主流的三模冗余容错电路入手,设计了SEU效应仿真测试电路.将冗余系统与多时钟沿触发相结合,提高了系统的检错能力.对冗余系统进行仿真SEU故障注入,通过与参照单元的比较,可对SEU效应引起的失效的发生进行仿真测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鹏	中国民航大学适航审定技术与管理研究中心民用航空器适航与维修重点实验室	76	158	6.0	8.0
2	白杰	中国民航大学适航审定技术与管理研究中心民用航空器适航与维修重点实验室	64	128	6.0	7.0
3	田毅	中国民航大学适航审定技术与管理研究中心民用航空器适航与维修重点实验室	18	51	4.0	6.0
4	薛茜男	中国民航大学适航审定技术与管理研究中心民用航空器适航与维修重点实验室	13	34	4.0	4.0