一种基于伪失效寿命的LED可靠性快速评价方法

• 作者: 俞鑫 吴国庆 崔德胜 樊星 郭伟玲
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: 发光二极管 定时截尾试验 伪失效寿命 威布尔分布
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 器件制备及器件物理
• 页码范围: 213-217
• 页数: 5页
• 分类号: TN364.2
• 字数: 2313字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20133402.0213

摘要

提出一种快速评价LED可靠性的有效方法.通过测试LED样品的伪失效寿命,结合Minitab软件进行数据分析,确定全部样品的伪失效寿命服从二参数的威布尔分布.通过计算威布尔分布尺度参数,比较不同样品的尺度参数来评价产品的可靠性.该方法对LED的可靠性评价和寿命预测有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭伟玲	北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室	74	656	10.0	23.0
2	樊星	北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室	13	80	6.0	8.0
3	崔德胜	北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室	6	39	3.0	6.0
4	吴国庆	北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室	4	49	4.0	4.0
5	俞鑫	北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室	6	50	5.0	6.0