针对FPGA密码芯片的近场差分电磁分析攻击

• 作者: 余浩 吴恒旭 邹程 陈开颜
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 密码芯片 近场 电磁辐射 差分电磁分析 高级加密标准 现场可编程门阵列
• 年，卷（期）: 2013,（18）
• 所属期刊栏目: 网络、通信、安全
• 页码范围: 89-93
• 页数: 5页
• 分类号: TP309
• 字数: 4724字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.1112-0492

摘要

为探究现场可编程门阵列（FPGA）密码芯片运行时电磁辐射造成的涉密信息泄漏情况，研究了互补金属氧化物半导体（CMOS）电路直接电磁辐射的原理，构建了FPGA密码芯片的近场电磁辐射模型。根据这个模型，探讨了近场电磁辐射测量点的选取，采用电磁扫描的方法解决了电磁探头在FPGA表面电磁信号采集的定位问题。此外，在阐释了差分电磁分析（DEMA）攻击原理的同时，完成了高级加密标准（AES）的FPGA电路设计，针对FPGA密码系统的DEMA攻击实验表明，通过电磁扫描找到最佳测量点，在42000个样本的条件下能成功破解AES密码电路的128 bit密钥。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈开颜	军械工程学院计算机工程系	61	247	8.0	11.0
2	余浩	军械工程学院计算机工程系	5	21	2.0	4.0
3	邹程	军械工程学院计算机工程系	11	55	5.0	7.0
4	吴恒旭		1	5	1.0	1.0