太赫兹无损检测的研究*

• 作者: 刘劲松 杨振刚 王可嘉 赵毕强
• 来源期刊: 物理
• 关键词: 太赫兹波 无损检测 反射成像 内部缺陷
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 评述 Review Articles
• 页码范围: 708-711
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7693/wl20131004

摘要

无损检测技术是一种不破坏零件或材料，可直接在现场进行检测的技术，广泛应用于样件的质量评估。太赫兹波具有量子能量低，对大多数非极性物质透明，兼具频谱性和成像性等特点。作为一种新型技术，太赫兹无损检测已经成为现有无损检测技术的有力补充。文章介绍了太赫兹成像系统的工作原理，阐述了基于连续太赫兹成像的无损检测技术在实际样件测试中的应用。实验测试结果表明，一些样件利用太赫兹无损检测技术可测得其内部缺陷。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘劲松	华中科技大学武汉光电国家实验室	205	1089	17.0	23.0
2	杨振刚	华中科技大学光学与电子信息学院	22	112	6.0	10.0
3	王可嘉	华中科技大学武汉光电国家实验室	25	150	7.0	11.0
4	赵毕强	华中科技大学光学与电子信息学院	2	28	2.0	2.0