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一种分辨率为39μV的高精度比较器设计
一种分辨率为39μV的高精度比较器设计
作者:
张俊
王明珍
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
比较器
预放大锁存
高精度
摘要:
该文主要介绍了一个应用于12bit SAR ADC中的高精度比较器.基于预放大锁存理论,完成了预放大级、锁存比较级和输出缓冲级三个模块的设计.为达到所需比较器的精度,对预放大级进行优化设计,锁存比较级电路采用的是动态锁存结构,而输出缓冲级采用的是SR锁存电路.该比较器是在GSMC0.18μm工艺下完成仿真设计的,经测试,在300M时钟下,比较器的分辨率为39μV.
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文献信息
篇名
一种分辨率为39μV的高精度比较器设计
来源期刊
电子质量
学科
工学
关键词
比较器
预放大锁存
高精度
年,卷(期)
2013,(8)
所属期刊栏目
产品设计与开发
研究方向
页码范围
24-27
页数
4页
分类号
TN432
字数
1182字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
张俊
电子科技大学电子工程学院
10
92
5.0
9.0
2
王明珍
电子科技大学电子工程学院
1
4
1.0
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节点文献
比较器
预放大锁存
高精度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号:
46-39
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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