试验程序差异对绝缘子污闪电压的影响

• 作者: 张志劲 胡建林 舒立春 苏永祥 蒋兴良
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 绝缘子 污秽 试验程序 闪络特性 影响因素 修正方法
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 输变电系统状态评价专题
• 页码范围: 1089-1095
• 页数: 7页
• 字数: 7544字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2013.05.010

摘要

各研究机构利用相同标准进行绝缘子串污闪特性试验所得结果差异较大,从而导致外绝缘的选择和设计存在争议.为此,根据试验室大量试验结果,并综合国内外研究成果,对试验程序差异对绝缘子串污闪电压的影响进行了研究,并提出了相应的电压修正方法.研究结果表明:试验过程中,染污方式、非可溶沉积物成分、非可溶沉积物密度(简称灰密)值、温度等均对绝缘子串污闪电压有影响；根据所提出的电压修正方法,修正后的各研究机构试验结果基本相同.研究结果对完善绝缘子人工污秽试验方法和外绝缘的选择与设计具有重要参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋兴良	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	218	5355	38.0	64.0
2	张志劲	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	104	2551	29.0	47.0
3	胡建林	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	105	1743	26.0	37.0
4	舒立春	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	78	2090	24.0	44.0
5	苏永祥	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	2	13	2.0	2.0