V形槽结构面源黑体辐射特性评估方法及结构参数优化设计

• 作者: 张伟 张宏 戴景民 王强 谢蓄芬
• 来源期刊: 天津大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 蒙特卡洛方法 红外定标源 面源黑体 有效发射率 大口径
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 463-468
• 分类号: TP702
• 字数: 3548字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11784/tdxb20130514

摘要

随着红外技术的迅速发展,作为标准辐射源的面源黑体在红外遥感与探测、红外成像等领域得到了日益广泛的应用,但不同形式面源黑体的辐射特性评估方法以及辐射特性与结构参数间的影响关系等问题还没有得到深入的研究.基于这一现状,针对同心圆 V 形槽结构面源黑体,提出了基于蒙特卡洛全光路跟踪的辐射特性评估方法.首先,通过与精密方法的相互比对验证了方法的正确性及准确程度;然后,基于该方法对V形槽面源黑体的有效发射率进行了评估;最后,对影响辐射特性的主要结构参数及其规律进行了分析研究.实验结果显示,槽夹角越小、涂层本征发射率越高,黑体的有效发射率就越高、越均匀.对于一般性应用可以采用45°或60°槽夹角;为了获取更高的有效发射率,可以采用更小的槽夹角,但涂层本征发射率必须大于等于0.8;采用长径比为2的保护套筒结构可以达到更为理想的辐射特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王强	哈尔滨工业大学空间光学工程研究中心	115	1806	22.0	39.0
2	张伟	哈尔滨工业大学空间光学工程研究中心	281	3078	27.0	38.0
3	戴景民	哈尔滨工业大学自动检测与过程控制系统研究所	155	2676	26.0	43.0
4	谢蓄芬	哈尔滨工业大学空间光学工程研究中心	6	73	3.0	6.0
5	张宏	哈尔滨理工大学计算机科学与技术学院	26	126	5.0	9.0