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电子产品可靠性与环境试验期刊
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气泡法粗漏检测试验及分析
气泡法粗漏检测试验及分析
作者:
李宁博
李飞
王庚林
王彩义
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
气泡法粗检漏
标准漏率
氦质谱细检漏
最长候检时间
粗漏细漏组合检测
摘要:
介绍了使用两种不同的液体组合所进行的气泡法粗漏检测对比实验,根据检测结果使用拟合法计算等效标准漏率大值L1,给出了两种不同液体组合最小可检等效标准漏率L0及检出率,分析了造成漏检的原因.进而分析了不同的液体组合粗漏检测所对应的氦质谱细漏检测最长候检时间及取代氟碳化合物气泡法粗漏检测方法的必要性,提出了改进氮质谱粗漏细漏组合检测方法的建议.
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篇名
气泡法粗漏检测试验及分析
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
气泡法粗检漏
标准漏率
氦质谱细检漏
最长候检时间
粗漏细漏组合检测
年,卷(期)
2013,(z1)
所属期刊栏目
专家论坛
研究方向
页码范围
4-10
页数
7页
分类号
TB774
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2013.S1.002
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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1
王庚林
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李宁博
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李飞
10
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王彩义
2
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传播情况
被引次数趋势
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版权信息
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引文网络
二级参考文献
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共引文献
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参考文献
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节点文献
引证文献
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同被引文献
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2013(4)
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引证文献(0)
二级引证文献(0)
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引证文献(2)
二级引证文献(0)
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引证文献(1)
二级引证文献(3)
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引证文献(1)
二级引证文献(3)
2018(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2019(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
气泡法粗检漏
标准漏率
氦质谱细检漏
最长候检时间
粗漏细漏组合检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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电子产品可靠性与环境试验2016
电子产品可靠性与环境试验2017
电子产品可靠性与环境试验2018
电子产品可靠性与环境试验2019
电子产品可靠性与环境试验2013年第6期
电子产品可靠性与环境试验2013年第2期
电子产品可靠性与环境试验2013年第z1期
电子产品可靠性与环境试验2013年第1期
电子产品可靠性与环境试验2013年第5期
电子产品可靠性与环境试验2013年第4期
电子产品可靠性与环境试验2013年第3期
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