一种基于三维堆叠技术的高可靠性Cache结构

• 作者: 孙岩 宋超 张民选 黎铁军
• 来源期刊: 上海交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 三维堆叠 高速缓冲存储器 可靠性 软错误
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 65-69
• 分类号: TP333
• 语种: 中文

摘要

针对三维集成电路的软错误问题,分析了高能粒子进入三维堆叠芯片中的运行轨迹和特性,在分析高速缓冲存储器(Cache)中各部分软错误易感性的基础上,提出了一种基于三维堆叠技术的高可靠性Cache结构R3D-Cache,利用三维堆叠芯片的层间屏蔽效应,以较小的面积和性能开销大幅降低了其软错误率.结果表明,所提出的R3D-Cache结构能够以0.52％～4.17％的面积开销,将Cache的软错误率降低到原来的5％,而所带来的性能开销可以忽略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张民选	国防科学技术大学计算机学院	63	351	9.0	16.0
2	孙岩	国防科学技术大学计算机学院	8	25	2.0	4.0
3	黎铁军	国防科学技术大学计算机学院	10	30	3.0	5.0
4	宋超	国防科学技术大学计算机学院	2	2	1.0	1.0